Двухлучевые электронные микроскопы
Микроскоп Helios 6 HXS FIB-SEM
Thermo Fisher Scientific Inc.
Высокотехнологичное решение для серийной подготовки образцов в полупроводниковой промышленности, обеспечивающее беспрецедентный уровень автоматизации и точности.
Описание оборудования
Автоматизированная система ПЭМ подготовки образцов с отличной повторяемостью. Helios 6 HXS FIB-SEM от Thermo Scientific — это высокотехнологичное решение для серийной подготовки образцов в полупроводниковой промышленности, обеспечивающее беспрецедентный уровень автоматизации и точности.
Основные характеристики
- Полностью автоматизированный процесс подготовки — точное позиционирование образцов, контроль толщины с использованием алгоритмов машинного обучения, возможность адаптации параметров под различные типы материалов
- Совместимость с автоматизированной лабораторией Vulcan
- Программное обеспечение AutoTEM 6 Professional для создания ультратонких срезов (менее 20 нм)
Метрологическая точность
- Позиционирование с субнанометровой точностью
- Стабильное получение срезов толщиной до 20 нм
Надежность процессов
- Более 95% успешных операций для процедуры Weld-To-Grid
- Свыше 90% для автоматического истончения
Ключевые компоненты
- Усовершенствованная колонна Osprey FIB
- Автоматическая система калибровки
- Инновационный держатель Dual Lamella Carrier
- Система газового осаждения MultiChem
- Прецизионный манипулятор EasyLift NanoManipulator
Система автоматической подачи образцов (EFEM) — интегрированное решение для Vulcan Automated Lab:
- Полностью автоматизированная загрузка/выгрузка
- Совместимость с держателями E177 5-finger
- Взаимодействие с лабораторной AMHS-системой
- Автоматическая передача образцов в Metrios 6S (S)TEM
Цифровая совместимость
- Сквозная передача данных между MES и управляющим ПО
- Поддержка OHT/AMR-систем
- Удобный интерфейс для управления заданиями
Преимущества
- Автоматизированная работа с материалами
- Автоматизированный обмен данными
- Автоматизированные рабочие процессы FIB-SEM
Особенности
- Модернизированная ионная колонна Osprey FIB
- Цифровая система управления пучком (10-кратное улучшение точности по сравнению с предыдущими версиями)
- Оптимизированные параметры ортогональности и стабильности для режимов FIB и SEM
Микроскоп Aquilos 2 Cryo-FIB
Специализированная система для приготовления ультратонких, электронно-прозрачных срезов.
Микроскоп Arctis Cryo-Plasma-FIB
Специализированная система для автоматизированного высокопроизводительного получения крио-срезов из витрифицированных клеток.
Микроскоп ExSolve WTP DualBeam
Микроскоп обеспечивает комплексное исследование образцов – от тканей до белковых комплексов – с сохранением их естественного состояния.
Микроскоп Helios 5 DualBeam
Микроскоп сочетает передовые технологии FIB-обработки с интеллектуальными системами автоматизации, обеспечивая надежную основу для развития следующих поколений электронных устройств.
Микроскоп Helios 5 EXL DualBeam
Сочетает передовые технологии FIB-обработки с интеллектуальными системами автоматизации, обеспечивая надежную основу для развития следующих поколений электронных устройств.
Микроскоп Helios 5 PFIB DualBeam
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (Plasma FIB-SEM) для подготовки TEM-образцов, включая 3D-характеризацию, анализ поперечных сечений, микрообработку.
Микроскоп Helios 5 PFIB Laser
Универсальный многофункциональный микроскоп, поддерживающий работу с четырьмя видами ионов (аргон, азот, кислород и ксенон), что позволяет подбирать оптимальные ионы для каждого исследования.
Микроскоп Helios 6 HD FIB-SEM
Микроскоп устанавливает новые стандарты в области подготовки образцов, обеспечивая исследователей и промышленность надежными инструментами для решения самых сложных аналитических задач.
Микроскоп Helios 6 HX FIB-SEM
Передовое решение для автоматизированной подготовки образцов для просвечивающей электронной микроскопии, сочетающее высочайшую точность с лучшей производительностью.
Микроскоп Helios Hydra 5 PFIB-SEM
Универсальный многофункциональный микроскоп, поддерживающие работу с четырьмя видами ионов (аргон, азот, кислород и ксенон), что позволяет подбирать оптимальные ионы для каждого исследования.
Микроскоп Helios Hydra 5+ PFIB-SEM
Усовершенствованная система плазменной ионной микроскопии с повышенной на 50% мощностью ионного пучка (до 3.75 мкА для Xe) и ультранизким 100 эВ электронным пучком.
Микроскоп Hydra Bio Plasma-FIB
Микроскоп обеспечивает комплексное исследование образцов – от тканей до белковых комплексов – с сохранением их естественного состояния.
Микроскоп Scios 3 FIB-SEM
Современный аналитический сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) сверхвысокого разрешения.
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54
