Двухлучевые электронные микроскопы

Микроскоп Helios 5 PFIB Laser

Микроскоп Helios 5 PFIB Laser
Микроскоп Helios 5 PFIB Laser
Thermo Fisher Scientific Inc.
Универсальный многофункциональный микроскоп, поддерживающий работу с четырьмя видами ионов (аргон, азот, кислород и ксенон), что позволяет подбирать оптимальные ионы для каждого исследования.

Описание оборудования

Системы Thermo Scientific Helios 5 PFIB Laser объединяют плазменную ионно-лучевую обработку с фемтосекундной лазерной абляцией и сканирующей электронной микроскопией (SEM).

Эта уникальная комбинация «TriBeam» обеспечивает:
  • Рекордную скорость обработки - лазерная технология обеспечивает удаление материала в 15 000 раз быстрее по сравнению с традиционными FIB-системами, что позволяет создавать миллиметровые сечения за минимальное время.
  • Глубокий анализ структуры - система предоставляет статистически значимые данные о подповерхностных слоях, возможность 3D-анализа больших объемов и быструю характеристику глубоко расположенных структур.
  • Прецизионную точность - совмещение трех лучей (SEM/(P)FIB/лазер) в одной точке гарантирует идеальную повторяемость резов, точное позиционирование при многоэтапной обработке и высокое качество 3D-характеристики.
  • Универсальность обработки - система работает с трудными материалами, включая непроводящие и чувствительные к лучу образцы, позволяет исследовать материалы без переноса между приборами и поддерживает все стандартные методы подготовки образцов (TEM, APT).
  • Интеграцию с платформой Helios 5 - сохранены все преимущества базовой системы, включая подготовку образцов высшего качества, визуализацию с ультравысоким разрешением и расширенные аналитические возможности.

Ключевые преимущества технологии

  • Фемтосекундный лазер обрабатывает материалы в тысячи раз быстрее стандартных FIB-систем
  • Создание крупных сечений (сотни микрометров) менее чем за 5 минут
  • Щадящая обработка чувствительных материалов (непроводящих, чувствительных к ионному лучу)
  • Минимальные тепловые повреждения и артефакты обработки
  • Возможность непосредственного SEM-анализа после лазерной обработки

Интеграция с программным обеспечением Auto Slice & View позволяет:
  • Послойное удаление материала для подповерхностного анализа
  • Цифровую реконструкцию 3D-структуры
  • Комплексный анализ (BSE, EDS, EBSD)
  • Одновременную регистрацию вторичных электронов и электронов обратного рассеяния
  • Автоматическую юстировку линз для воспроизводимых результатов

Системы TriBeam обеспечивают детальный анализ в широком диапазоне режимов работы - от структурной информации в STEM-режиме при 30 кэВ до исследования поверхности при низких энергиях без эффектов заряжения.

Thermo Fisher Scientific представляет семейство систем (P)FIB-SEM с полностью интегрированными фемтосекундными лазерами TriBeam. Все три модели серии объединяют лучшую в своем классе электронную колонну Thermo Scientific Elstar SEM, высокоточный 150-миллиметровый пьезоэлектрический столик и просторную рабочую камеру.

Базовая модель Helios 5 Laser System оснащена высокопроизводительной ионной колонной Tomahawk HT FIB, обеспечивающей исключительную скорость обработки. Модель Helios 5 Laser PFIB System комплектуется мощной ксеноновой плазменной PFIB-колонной для работы с самыми требовательными материалами. Флагманская система Helios 5 Laser Hydra System представляет уникальную технологию PFIB, поддерживающую работу с ксеноном, аргоном, кислородом и азотом, что делает ее универсальным решением для любых исследовательских задач.

Все модели серии обеспечивают полную интеграцию лазерной абляции с возможностями электронной микроскопии, поддерживая современные методы анализа, включая подготовку образцов для TEM и APT, а также комплексный 3D-анализ структуры материалов

Преимущества

  • 3х система обеспечивает идеальное совмещение пучков в единой рабочей точке, гарантируя высочайшую точность и повторяемость обработки
  • Получение срезов с беспрецедентной скоростью - до 15 тысяч раз быстрее стандартных FIB-систем
  • Глубокий анализ подповерхностных структур и достоверная 3D-визуализация на статистически значимом уровне
Применение
  • Подготовка образцов для просвечивающей электронной микроскопии (TEM)
  • Подготовка проб для атомно-зондовой томографии (APT)
  • 3D-анализ структуры материалов

Основные характеристики

Конфигурация Полностью интегрирован в камеру с совмещением всех 3 пучков (SEM/FIB/лазер), обеспечивая точное и воспроизводимое позиционирование срезов и 3D-характеристику.
Первая гармоника Длина волны 1030 нм (ИК)
Длительность импульса <280 фс
Вторая гармоника Длина волны 515 нм (зеленый)
Длительность импульса <300 фс
Оптическая система Точка совпадения пучков WD = 4 мм (как у SEM/FIB)
Объектив Переменный (моторизованный)
Поляризация Горизонтальная/вертикальная
Частота 1 кГц – 1 МГц
Точность позиционирования пучка <250 нм
Защитный затвор Автоматический защитный затвор для SEM/PFIB
Программное обеспечение • ПО управления лазером
• Алгоритм лазерного 3D-секционирования
• 3D-секционирование с EBSD
• Лазерные скрипты*
Безопасность Защитный кожух с блокировкой (Класс безопасности лазера 1)
Похожее оборудование
Микроскоп Aquilos 2 Cryo-FIB Микроскоп Aquilos 2 Cryo-FIB
Специализированная система для приготовления ультратонких, электронно-прозрачных срезов.
Микроскоп Arctis Cryo-Plasma-FIB Микроскоп Arctis Cryo-Plasma-FIB
Специализированная система для автоматизированного высокопроизводительного получения крио-срезов из витрифицированных клеток.
Микроскоп ExSolve WTP DualBeam Микроскоп ExSolve WTP DualBeam
Микроскоп обеспечивает комплексное исследование образцов – от тканей до белковых комплексов – с сохранением их естественного состояния.
Микроскоп Helios 5 DualBeam Микроскоп Helios 5 DualBeam
Микроскоп сочетает передовые технологии FIB-обработки с интеллектуальными системами автоматизации, обеспечивая надежную основу для развития следующих поколений электронных устройств.
Микроскоп Helios 5 EXL DualBeam Микроскоп Helios 5 EXL DualBeam
Сочетает передовые технологии FIB-обработки с интеллектуальными системами автоматизации, обеспечивая надежную основу для развития следующих поколений электронных устройств.
Микроскоп Helios 5 PFIB DualBeam Микроскоп Helios 5 PFIB DualBeam
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (Plasma FIB-SEM) для подготовки TEM-образцов, включая 3D-характеризацию, анализ поперечных сечений, микрообработку.
Микроскоп Helios 6 HD FIB-SEM Микроскоп Helios 6 HD FIB-SEM
Микроскоп устанавливает новые стандарты в области подготовки образцов, обеспечивая исследователей и промышленность надежными инструментами для решения самых сложных аналитических задач.
Микроскоп Helios 6 HX FIB-SEM Микроскоп Helios 6 HX FIB-SEM
Передовое решение для автоматизированной подготовки образцов для просвечивающей электронной микроскопии, сочетающее высочайшую точность с лучшей производительностью.
Микроскоп Helios 6 HXS FIB-SEM Микроскоп Helios 6 HXS FIB-SEM
Высокотехнологичное решение для серийной подготовки образцов в полупроводниковой промышленности, обеспечивающее беспрецедентный уровень автоматизации и точности.
Микроскоп Helios Hydra 5 PFIB-SEM Микроскоп Helios Hydra 5 PFIB-SEM
Универсальный многофункциональный микроскоп, поддерживающие работу с четырьмя видами ионов (аргон, азот, кислород и ксенон), что позволяет подбирать оптимальные ионы для каждого исследования.
Микроскоп Helios Hydra 5+ PFIB-SEM Микроскоп Helios Hydra 5+ PFIB-SEM
Усовершенствованная система плазменной ионной микроскопии с повышенной на 50% мощностью ионного пучка (до 3.75 мкА для Xe) и ультранизким 100 эВ электронным пучком.
Микроскоп Hydra Bio Plasma-FIB Микроскоп Hydra Bio Plasma-FIB
Микроскоп обеспечивает комплексное исследование образцов – от тканей до белковых комплексов – с сохранением их естественного состояния.
Микроскоп Scios 3 FIB-SEM Микроскоп Scios 3 FIB-SEM
Современный аналитический сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) сверхвысокого разрешения.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54