Двухлучевые электронные микроскопы
Микроскоп Arctis Cryo-Plasma-FIB
Thermo Fisher Scientific Inc.
Специализированная система для автоматизированного высокопроизводительного получения крио-срезов из витрифицированных клеток.
Описание оборудования
Криоэлектронная томография (крио-ET) открывает новые возможности для изучения внутриклеточных процессов, однако качество результатов напрямую зависит от подготовки крио-срезов.
Возможности Arctis Cryo-Plasma FIB
- Автоматизированное получение высококачественных срезов
- Подготовка на крио-ET сетках; интеграция в рабочий процесс крио-ET; автозагрузчик для роботизированной подачи образцов, автоматической обработки и хранения до 12 замороженных проб с прямым подключением к крио-TEM
- Встроенный интегрированный флуоресцентный микроскоп (iFLM) позволяет изучать один и тот же участок с помощью: световой микроскопии, ионного пучка; электронной микроскопии
- Полный рабочий процесс крио-ET: от культивирования клеток и мгновенной заморозки до 3D-визуализации
Преимущества
- Оптимальное время подготовки образцов
- Минимальное влияние «человеческого фактора»
- Обеспечение стабильного качества крио-срезов
- Совместимость с полным циклом крио-электронной микроскопии
Особенности
- Полная автоматизация процесса подготовки образцов
- Интеграция с крио-TEM благодаря системе Autoloader
- Сквозной рабочий процесс от подготовки образцов до томографии
- Высокая воспроизводимость результатов
Микроскоп Aquilos 2 Cryo-FIB
Специализированная система для приготовления ультратонких, электронно-прозрачных срезов.
Микроскоп ExSolve WTP DualBeam
Микроскоп обеспечивает комплексное исследование образцов – от тканей до белковых комплексов – с сохранением их естественного состояния.
Микроскоп Helios 5 DualBeam
Микроскоп сочетает передовые технологии FIB-обработки с интеллектуальными системами автоматизации, обеспечивая надежную основу для развития следующих поколений электронных устройств.
Микроскоп Helios 5 EXL DualBeam
Сочетает передовые технологии FIB-обработки с интеллектуальными системами автоматизации, обеспечивая надежную основу для развития следующих поколений электронных устройств.
Микроскоп Helios 5 PFIB DualBeam
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (Plasma FIB-SEM) для подготовки TEM-образцов, включая 3D-характеризацию, анализ поперечных сечений, микрообработку.
Микроскоп Helios 5 PFIB Laser
Универсальный многофункциональный микроскоп, поддерживающий работу с четырьмя видами ионов (аргон, азот, кислород и ксенон), что позволяет подбирать оптимальные ионы для каждого исследования.
Микроскоп Helios 6 HD FIB-SEM
Микроскоп устанавливает новые стандарты в области подготовки образцов, обеспечивая исследователей и промышленность надежными инструментами для решения самых сложных аналитических задач.
Микроскоп Helios 6 HX FIB-SEM
Передовое решение для автоматизированной подготовки образцов для просвечивающей электронной микроскопии, сочетающее высочайшую точность с лучшей производительностью.
Микроскоп Helios 6 HXS FIB-SEM
Высокотехнологичное решение для серийной подготовки образцов в полупроводниковой промышленности, обеспечивающее беспрецедентный уровень автоматизации и точности.
Микроскоп Helios Hydra 5 PFIB-SEM
Универсальный многофункциональный микроскоп, поддерживающие работу с четырьмя видами ионов (аргон, азот, кислород и ксенон), что позволяет подбирать оптимальные ионы для каждого исследования.
Микроскоп Helios Hydra 5+ PFIB-SEM
Усовершенствованная система плазменной ионной микроскопии с повышенной на 50% мощностью ионного пучка (до 3.75 мкА для Xe) и ультранизким 100 эВ электронным пучком.
Микроскоп Hydra Bio Plasma-FIB
Микроскоп обеспечивает комплексное исследование образцов – от тканей до белковых комплексов – с сохранением их естественного состояния.
Микроскоп Scios 3 FIB-SEM
Современный аналитический сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) сверхвысокого разрешения.
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54
