Двухлучевые электронные микроскопы
Микроскоп Aquilos 2 Cryo-FIB
Thermo Fisher Scientific Inc.
Специализированная система для приготовления ультратонких, электронно-прозрачных срезов, применяемых в: крио-электронной томографии клеточных структур высокого разрешения и микроэлектронной дифракции (MicroED) микрокристаллов.
Описание оборудования
Ключевые особенности Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo-FIB
- Автоматизация рабочих процессов — программируемое приготовление множества срезов из заданных областей, повторяемость и стандартизация подготовки образцов.
- Усовершенствованная крио-аппаратура — продолжительная работа при сверхнизком уровне загрязнения/контаминации, улучшенная стабильность работы.
- Преимущества для исследований — высокое качество образцов для томографии, возможность работы с микрокристаллическими материалами, оптимизация времени подготовки образцов.
Преимущества системы Aquilos 2 Cryo-FIB
- Автоматизация и длительная работа. Система позволяет:
- Автоматически готовить несколько срезов/ламелл с помощью ПО AutoTEM
- Работать круглосуточно без потери качества образцов
- Поддерживать стабильную витрификацию образцов даже при длительных экспериментах
- Защищать образцы от загрязнения благодаря специальной крио-аппаратуре и поворотному столику
- Точное выделение целевых структур (Cryo-Lift-Out). С помощью наноманипулятора EasyLift можно:
- Точечно выделять интересующие участки (например, флуоресцентно меченые белки)
- Работать даже с образцами, замороженными под высоким давлением
- Переносить полученные ламеллы в Autogrids для дальнейшего крио-TEM анализа белковых структур и сетей
- Детальная 3D-визуализация. Система обеспечивает:
- Изучение нативной субклеточной структуры с ультравысоким разрешением
- Идентификацию особенностей структуры для томографии в крио-TEM
- Создание 3D-изображений путем последовательного фрезерования и сканирования
- Автоматизацию процесса с помощью ПО Auto Slice and View
Основные возможности и области применения Aquilos 2 Cryo-FIB
- Автоматизированная подготовка образцов
- Интуитивное программное обеспечение с пошаговыми инструкциями
- Автоматическое создание нескольких крио-ламелл за один цикл работы
- Оптимизированный процесс для крио-электронной томографии и дифракции электронов низких энергий (MicroED)
- Клеточная крио-электронная томография
- Автоматизированное получение ламелл из заданных областей клеток
- Усовершенствованная крио-система обеспечивает продолжительную работу и минимальный уровень загрязнения, позволяет изучать структуры непосредственно внутри клетки
- Интегрированная iFLM система позволяет:
- Совмещать флуоресцентную визуализацию и ионное фрезерование
- Работать с образцами непосредственно в вакуумной камере
- Быстро идентифицировать целевые клетки
- Контролировать процесс фрезерования в реальном времени
- Подготовка образцов для MicroED. Расширенные возможности работы с кристаллами:
- Возможность обработки кристаллов размером в несколько микрометров
- Тонкая подгонка толщины до 100-300 нм
Преимущества
- Автоматизация позволяет производить несколько срезов
- Возможно точное выделение целевой структуры с помощью нано-манипулятора
- 3D-визуализация для томографии высокого разрешения
Особенности
- Автоматизация рабочих процессов
- Усовершенствованная крио-аппаратура
- Преимущества для исследований
Микроскоп Arctis Cryo-Plasma-FIB
Специализированная система для автоматизированного высокопроизводительного получения крио-срезов из витрифицированных клеток.
Микроскоп ExSolve WTP DualBeam
Микроскоп обеспечивает комплексное исследование образцов – от тканей до белковых комплексов – с сохранением их естественного состояния.
Микроскоп Helios 5 DualBeam
Микроскоп сочетает передовые технологии FIB-обработки с интеллектуальными системами автоматизации, обеспечивая надежную основу для развития следующих поколений электронных устройств.
Микроскоп Helios 5 EXL DualBeam
Сочетает передовые технологии FIB-обработки с интеллектуальными системами автоматизации, обеспечивая надежную основу для развития следующих поколений электронных устройств.
Микроскоп Helios 5 PFIB DualBeam
Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (Plasma FIB-SEM) для подготовки TEM-образцов, включая 3D-характеризацию, анализ поперечных сечений, микрообработку.
Микроскоп Helios 5 PFIB Laser
Универсальный многофункциональный микроскоп, поддерживающий работу с четырьмя видами ионов (аргон, азот, кислород и ксенон), что позволяет подбирать оптимальные ионы для каждого исследования.
Микроскоп Helios 6 HD FIB-SEM
Микроскоп устанавливает новые стандарты в области подготовки образцов, обеспечивая исследователей и промышленность надежными инструментами для решения самых сложных аналитических задач.
Микроскоп Helios 6 HX FIB-SEM
Передовое решение для автоматизированной подготовки образцов для просвечивающей электронной микроскопии, сочетающее высочайшую точность с лучшей производительностью.
Микроскоп Helios 6 HXS FIB-SEM
Высокотехнологичное решение для серийной подготовки образцов в полупроводниковой промышленности, обеспечивающее беспрецедентный уровень автоматизации и точности.
Микроскоп Helios Hydra 5 PFIB-SEM
Универсальный многофункциональный микроскоп, поддерживающие работу с четырьмя видами ионов (аргон, азот, кислород и ксенон), что позволяет подбирать оптимальные ионы для каждого исследования.
Микроскоп Helios Hydra 5+ PFIB-SEM
Усовершенствованная система плазменной ионной микроскопии с повышенной на 50% мощностью ионного пучка (до 3.75 мкА для Xe) и ультранизким 100 эВ электронным пучком.
Микроскоп Hydra Bio Plasma-FIB
Микроскоп обеспечивает комплексное исследование образцов – от тканей до белковых комплексов – с сохранением их естественного состояния.
Микроскоп Scios 3 FIB-SEM
Современный аналитический сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) сверхвысокого разрешения.
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54
