Двухлучевые электронные микроскопы

FIB-SEM системы Thermo Fisher Scientific сочетают фокусированный ионный пучок (FIB) и растровую электронную микроскопию (SEM) для нанометрового анализа материалов. Линейка DualBeam с 30-летним опытом позволяет проводить прецизионные исследования с автоматизированной 3D-реконструкцией. Инновационные TriBeam системы с фемтосекундным лазером ускоряют пробоподготовку в 100-1000 раз, обрабатывая даже сложные материалы без артефактов. Ключевые применения включают: автоматизированную подготовку TEM-образцов (AutoTEM), мультимодальный 3D-анализ (BSE/EDS/EBSD) и прямое нанопрототипирование без литографии. Более 2000 установок по всему миру подтверждают эффективность решений для полупроводниковой индустрии, материаловедения и нанотехнологий. Технология обеспечивает уникальное сочетание наноразрешения, высокой скорости и полной автоматизации для современных исследовательских задач.

Смотреть оборудование Получить консультацию

Товары раздела

Микроскоп Aquilos 2 Cryo-FIB

Специализированная система для приготовления ультратонких, электронно-прозрачных срезов.

Микроскоп Arctis Cryo-Plasma-FIB

Специализированная система для автоматизированного высокопроизводительного получения крио-срезов из витрифицированных клеток.

Микроскоп ExSolve WTP DualBeam

Микроскоп обеспечивает комплексное исследование образцов – от тканей до белковых комплексов – с сохранением их естественного состояния.

Микроскоп Helios 5 DualBeam

Микроскоп сочетает передовые технологии FIB-обработки с интеллектуальными системами автоматизации, обеспечивая надежную основу для развития следующих поколений электронных устройств.

Микроскоп Helios 5 EXL DualBeam

Сочетает передовые технологии FIB-обработки с интеллектуальными системами автоматизации, обеспечивая надежную основу для развития следующих поколений электронных устройств.

Микроскоп Helios 5 PFIB DualBeam

Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (Plasma FIB-SEM) для подготовки TEM-образцов, включая 3D-характеризацию, анализ поперечных сечений, микрообработку.

Микроскоп Helios 5 PFIB Laser

Универсальный многофункциональный микроскоп, поддерживающий работу с четырьмя видами ионов (аргон, азот, кислород и ксенон), что позволяет подбирать оптимальные ионы для каждого исследования.

Микроскоп Helios 6 HD FIB-SEM

Микроскоп устанавливает новые стандарты в области подготовки образцов, обеспечивая исследователей и промышленность надежными инструментами для решения самых сложных аналитических задач.

Микроскоп Helios 6 HX FIB-SEM

Передовое решение для автоматизированной подготовки образцов для просвечивающей электронной микроскопии, сочетающее высочайшую точность с лучшей производительностью.

Микроскоп Helios 6 HXS FIB-SEM

Высокотехнологичное решение для серийной подготовки образцов в полупроводниковой промышленности, обеспечивающее беспрецедентный уровень автоматизации и точности.

Микроскоп Helios Hydra 5 PFIB-SEM

Универсальный многофункциональный микроскоп, поддерживающие работу с четырьмя видами ионов (аргон, азот, кислород и ксенон), что позволяет подбирать оптимальные ионы для каждого исследования.

Микроскоп Helios Hydra 5+ PFIB-SEM

Усовершенствованная система плазменной ионной микроскопии с повышенной на 50% мощностью ионного пучка (до 3.75 мкА для Xe) и ультранизким 100 эВ электронным пучком.