Электронные микроскопы
Дополнительное оборудование для электронных микроскопов

Дополнительное оборудование и комплектующие для электронных микроскопов.
Товары раздела

Комплекс приборов для дифракции быстрых электронов (RHEED) и дифракции медленных электронов (LEED). Используется для анализа кристаллической структуры поверхности и контроля качества тонких пленок в реальном времени.

Компактная система для магнетронного напыления в вакууме (<3 Па), предназначенная для нанесения тонких покрытий, включая благородные металлы — золото, платину и другие. Обеспечивает высокое качество пленок и равномерность осаждения.

Прецизионный столик с регулируемыми скоростью вращения, углом наклона и высотой. Оптимизирован для использования в процессах ионного напыления, обеспечивая равномерную обработку поверхности образцов.
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
info@caic.kz
Наш телефон
+7 (708) 978-03-54