Главная Каталог Наука и нанотехнологии Ближнепольная микроскопия и спектроскопия Neaspec IRa-SCOPE

Ближнепольная микроскопия и спектроскопия Neaspec

IRa-SCOPE

attocube

Сочетание микро-ИК, нано-ИК и Рамановской спектроскопии с высококачественной АСМ визуализацией для многофункциональной характеризации поверхности материалов – в одном приборе.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Впервые в одном приборе объединены инновационные методы нано-ИК визуализации, конфокальной Рамановской микроспектроскопии и высококачественной атомно-силовой микроскопии (АСМ). Интеграция ультрасовременного нано-ИК-детектора на основе света (нано-ИК) и силы (полуконтактный АСМ-ИК) позволяет достичь максимальной производительности на любом исследуемом материале.

Корреляционная конфокальная Рамановская спектроскопия расширяет возможности применения системы и значительно повышает качество химической идентификации. Встроенная микро-ИК-система, основанная на лазерной прямой инфракрасной спектроскопии отражения-поглощения (LDIR), предоставляет легкую идентификацию интересующих областей и предварительную характеристику образца с помощью одного и того же прибора. Высококачественная АСМ гарантирует превосходную наноразмерную механическую характеристику. Революционная навигация по поверхности образцов, интеллектуальная автоматизация системы и управление данными анализа обеспечивают сравнительную производительность для наноразмерных аналитических приложений с непревзойденным качеством данных и простотой использования.

Области применения IRa-SCOPE

2D материалы
Полимерные материалы
Материалы для энергетики
Науки о жизни
Неорганические материалы

Приложения

2D материалы
Катализаторы
Полимеры и нано-пластик

Основные характеристики

Общие характеристики


Интегрированные режимы работы	Высокопроизводительные нано-ИК, конфокальная Рамановская спектроскопия, микро-ИК, АСМ
Оптическая система	Интегрированный двойной объектив (20x и 100x)
ИК-оптика	Патентованное двустороннее параболическое зеркало (NA = 0.6)
Операционная система	Автоматическое переключение режимов измерения, настройка прибора и распознавание ID образцов
Нано-ИК спектроскопия
Нано-ИК	Наноспектроскопия отражения и поглощения и химическое картирование на основе патентованного интерферометрического детектирования ближнего поля
Полуконтактный АСМ-ИК	Наноспектроскопия поглощения и химическая визуализация на основе патентованного гетеродинного АСМ-детектирования сигнала
Перестраиваемый лазер QCL (нано-ИК и АСМ-ИК)	Средняя ИК-область: 800 - 1800 см^-1 (5.5-12.5 мкм)
Перестраиваемый в широком диапазоне лазер OPO (нано-ИК и АСМ-ИК)	Средняя ИК-область и функциональные группы: 625 - 7140 см^-1 (1.4-16 мкм)
Перестраиваемый лазер QCL (только АСМ-ИК)	Средняя ИК-область 760 - 1860 см^-1 и CH-область 2700 - 3000 см^-1 или 2000 - 2400 см^-1
Конфокальная Рамановская микроспектроскопия
Объектив	LWD 100x
Лазер в видимой области	До двух лазеров (532 нм, 785 нм)
ПЗС-камера и спектрограф	ПЗС-камера с задней подсветкой (1024x255, 26x26 мкм размер пикселя), 328 мм фокусное расстояние, F/4.1 апертура Турель, включающая 4 решетки
ИК-микроспектроскопия
Режим работы	Лазерная прямая инфракрасная спектроскопия (LDIR) в геометрии преломления
АСМ-микроскоп
Доступные АСМ-режимы	Атомно-силовая микроскопия (АСМ/AFM), пьезоэлектрическая силовая микроскопия (ПСМ/ PFM), кельвин-зондовая силовая микроскопия (КЗСМ/KPFM), проводящая атомно-силовая микроскопия (п-АСМ/c-AFM), TipForce (нанокартирование механических свойств)
Сканер с замкнутым контуром	Высокостабильный 100 мкм x 100 мкм x 8 мкм АСМ-сканер (СКО по z-оси <80 пм)
Дополнения
АСМ-зонды	Нано-ИК зонды для точной спектроскопической химической идентификации
Контроль экспериментальных условий	Очистка камеры и термостатирование образца
Микрофлюидная жидкостная ячейка	In situ нано-ИК в жидкостях

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Фармацевтическая промышленность

Экология

Похожее оборудование

IR-neaSCOPE

Обеспечивает наноразмерную ИК-визуализацию и спектроскопию, основанные на эффекте фототермического расширения, вызванного лазером, при помощи АСМ-зонда.

VIS-neaSCOPE+s

Поддерживает визуализацию локальных электромагнитных полей по амплитуде и фазе с использованием поляризационной ближнепольной микроскопии.

IR-neaSCOPE+s

Обеспечивает наноразмерную ИК-визуализацию и спектроскопию при помощи детектирования рассеянного со стандартного АСМ-зонда света.

THz-neaSCOPE+s

Универсальная платформа для наноразмерной визуализации и спектроскопии в терагерцовой области.

IR-neaSCOPE+fs

Платформа для ультрабыстрой pump-probe спектроскопии (спектроскопия накачки-зондирования) с фемтосекундным временным разрешением (10 фс) и пространственным разрешением 10 нм.

IR-neaSCOPE+TERs

Революционное сочетание АСМ и нано-ИК спектроскопии с фотолюминесцентной и Рамановской спектроскопией для нанометрового разрешения.

Сryo-neaSCOPE+xs

Инновационный инструмент для получения наноразмерных оптических изображений и наноспектроскопии при температурах ниже 10 К.

Модули для спектроскопии и визуализации

Оптические модули Neaspec обеспечивают полный доступ к зондовой области и два независимых канала регистрации данных, что позволяет выполнять одновременные спектроскопические и визуализационные исследования.

Источники VIS, NIR, MIR и THz света

Разноспектральные источники излучения обеспечивают работу neaSNOM в широком диапазоне частот — от видимого до терагерцового, позволяя исследовать химические, структурные и электронные свойства материалов различной природы.